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KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞 多層可測掃描聲學(xué)顯微鏡，英文是Scanning Acoustic Microscope，也稱超聲波掃描顯微鏡，用于檢測各種器件的內(nèi)部分層、空洞、裂紋等缺陷KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞
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